Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale - Université d'Artois
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale

M.M. Saj Mohan
  • Fonction : Auteur
MESA+ Research Institute
Antonio Da Costa
  • Fonction : Auteur
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181
Jean-François Tahon
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Vincent Bouad
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Ahmad Hamieh
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Ahmed Addad
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Adeline Marin
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Frédéric Cazaux
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Freddy Ponchel
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN
Jean-Marc Lefebvre
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Vincent Ladmiral
Institut Charles Gerhardt Montpellier - Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux de Montpellier
CV
Denis Remiens
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN
Rachel Desfeux
UCCS Équipe Couches Minces & Nanomatériaux
Sophie Barrau
  • Fonction : Auteur
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Anthony Ferri
UCCS Équipe Couches Minces & Nanomatériaux

Domaines

Chimie-Physique [physics.chem-ph] Matériaux

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Soumis le : mercredi 25 janvier 2023-16:40:20

Dernière modification le : jeudi 7 novembre 2024-16:14:04

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Identifiants

  • HAL Id : hal-03956501 , version 1

Citer

M.M. Saj Mohan, Antonio Da Costa, Jean-François Tahon, Vincent Bouad, Ahmad Hamieh, et al.. Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale. Matériaux Électroactifs et Applications (MatElec 2022), Jul 2022, Villeneuve d'Ascq, France. ⟨hal-03956501⟩

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