Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale - Université d'Artois
Conference Papers Year : 2022

Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale

M.M. Saj Mohan
  • Function : Author
MESA+ Research Institute
Antonio Da Costa
  • Function : Author
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181
Jean-François Tahon
  • Function : Author
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Vincent Bouad
  • Function : Author
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Ahmad Hamieh
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Ahmed Addad
  • Function : Author
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Adeline Marin
  • Function : Author
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Frédéric Cazaux
  • Function : Author
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Freddy Ponchel
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN
Jean-Marc Lefebvre
  • Function : Author
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Vincent Ladmiral
Institut Charles Gerhardt Montpellier - Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux de Montpellier
CV
Denis Remiens
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN
Rachel Desfeux
UCCS Équipe Couches Minces & Nanomatériaux
Sophie Barrau
  • Function : Author
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207
Anthony Ferri
UCCS Équipe Couches Minces & Nanomatériaux

Domains

Chemical Physics [physics.chem-ph] Material chemistry

Luc Maes  : Connect in order to contact the contributor

https://univ-artois.hal.science/hal-03956501

Submitted on : Wednesday, January 25, 2023-4:40:20 PM

Last modification on : Tuesday, January 7, 2025-1:30:02 PM

No file

Dates and versions

hal-03956501 , version 1 (25-01-2023)

Identifiers

  • HAL Id : hal-03956501 , version 1

Cite

M.M. Saj Mohan, Antonio Da Costa, Jean-François Tahon, Vincent Bouad, Ahmad Hamieh, et al.. Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale. Matériaux Électroactifs et Applications (MatElec 2022), Jul 2022, Villeneuve d'Ascq, France. ⟨hal-03956501⟩

Export

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-ARTOIS CNRS UNIV-VALENCIENNES UCCS IEMN ICG INC-CNRS CHIMIE UNIV-MONTPELLIER UNIV-LILLE INSA-GROUPE INRAE MICA-UNITES INSA-HAUTS-DE-FRANCE
55 View
0 Download

Share

More